RecommendFacebook LinkedIn

Oberflächenkenngrößen gemäß DIN EN ISO 21920 in der Praxis

Messplatz Waveline W920RC Nanoscan

Als führender Hersteller und Systemlieferant bietet HOMMEL ETAMIC ein breites Portfolio an Messtechnik für industrielle Fertigungsprozesse. Es umfasst hochpräzise Technologien für die pneumatische, taktile oder optische Messung und Prüfung von Rauheit, Kontur, Form und Dimensionen sowie die optische Inspektion von Oberflächen.

Unsere Messsysteme sichern die Qualität Ihrer Werkstücke in jeder Phase des Produktionsprozesses, indem sie innerhalb kurzer Zeit genaue Messdaten liefern. Ob Inline-, Offline- oder 100 %-Kontrolle aller produzierten Teile – eine effizient gestaltete, automatisierte Messtechnik steigert die Gesamtproduktivität des Produktionsprozesses.

Wir bieten Lösungen für verschiedene Aufgaben in der Oberflächenmessung. Unser Angebot umfasst mobile Oberflächenmessgeräte, stationäre Messsysteme zur manuellen und automatisierten Rauheits-, Kontur-, Topographie- oder Drallmessung sowie kombinierte Systeme zur Rauheits- und Konturmessung nach DIN EN ISO 21920. Darüber hinaus bieten wir Messplätze an, die auf Ihre spezifischen Messanforderungen zugeschnitten sind.

Messung der Oberflächenbeschaffenheit gemäß der Normenreihe DIN EN ISO 21920

Waveline Digiscan double probe tip

Die Beschaffenheit einer Oberfläche ist ein wichtiger Faktor für eine hohe Qualität der Werkstücke. Daher ist es notwendig, sie durch genormte Oberflächenkenngrößen möglichst eindeutig zu definieren.

Die Normenreihe DIN EN ISO 21920 gilt seit dem Jahr 2022 und definiert die Kenngrößen der Rauheitsmesstechnik übersichtlicher und genauer. Die Kenngrößen werden überwiegend direkt über die gesamte Auswertelänge berechnet. Zusätzlich zu den bekannten Rauheitskenngrößen wurden neue definiert und einige bestehende Kenngrößen erhielten neue Namen.

Dies führt teilweise zu Unterschieden zwischen den alten Kenngrößen nach DIN EN ISO 4287 oder DIN EN ISO 13565 und den neuen Oberflächenkenngrößen gemäß der Normenreihe DIN EN ISO 21920. Letztere wird nach einer Übergangszeit die bisherigen Normen für die Rauheitsmessung ersetzen.

Spezifikationen gemäß DIN EN ISO 21920

Die Normenreihe DIN EN ISO 21920 definiert präzise überarbeitete Begriffe, Richtlinien und Kenngrößen für eine effektive Oberflächenbewertung, wie z. B.

  • Oberflächenprofile
  • P-, R- und W-Kenngrößen
  • Taststrecken und Auswertelängen
  • Filter-Typen
  • Messbedingungen
  • Toleranzgrenzen und Akzeptanzregeln

Sie möchten mehr Informationen?

Unsere Faltblätter fassen die wichtigsten Informationen zur neuen Normenreihe DIN EN ISO 21920 sowie der bisherigen Normen DIN EN ISO 4287 und DIN EN ISO 13565 zusammen. Diese können Sie kostenlos über das Formular herunterladen.
Waveline W800

Um die Faltblätter herunterzuladen, füllen Sie bitte das Formular aus.

* = Pflichtfeld, bitte ausfüllen

Einwilligungserklärung

dass die JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH bzw. das in der JENOPTIK-Gruppe für meine Anfrage zuständige Unternehmen meine E-Mailadresse und meine sonstigen im Kontaktformular eingegebenen personenbezogenen Daten verarbeiten darf, um mit mir per E-Mail, Telefon oder auf sonstige Weise in Kontakt zu treten und mir Informationen zu Produkten und Leistungen der JENOPTIK-Gruppe zu übersenden. Ich bin jederzeit berechtigt, Auskunft über die zu meiner Person gespeicherten Daten zu erhalten und ich kann die Berichtigung, Löschung und Sperrung einzelner personenbezogener Daten verlangen. Diese Einwilligung kann ich ferner jederzeit ohne Angabe von Gründen widerrufen. Im Übrigen sind mir die Hinweise in der Datenschutzerklärung zum Kontaktformular bekannt.